면접관이 이 한 문장으로 확인하려는 것들. 각 갈래를 알면 답의 뼈대가 잡혀요.
GaN 디바이스의 신뢰성 평가를 위해 고온 동작 수명 시험과 온도 사이클 시험을 병행해 진행했습니다. 정상 사용 조건보다 가혹한 온도와 전압 스트레스를 가해 열화 속도를 앞당기고, 이를 통해 얻은 데이터를 아레니우스 모델로 환산해 실사용 조건에서의 수명을 추정했습니다. 단일 시험 결과에 의존하지 않고 여러 스트레스 조건의 결과를 교차 검증하는 방식으로 신뢰도를 높였습니다.
불량이 발생했을 때 육안 검사부터 시작해 전기적 특성 측정, 단면 분석까지 단계를 나눠 체계적으로 접근했습니다. 특정 배치에서 누설 전류가 기준치를 초과하는 문제가 있었는데, 단면 분석을 통해 특정 계면에서 결함이 집중되는 것을 확인하고 해당 공정 단계의 조건을 조정해 문제를 해결했습니다. 현상만 보고 판단하지 않고 물리적 근거를 확인하는 절차를 거친 것이 핵심이었습니다.
표면적으로는 같은 유형의 불량이라도 원인이 다를 수 있다고 판단해, 불량 샘플을 여러 개 확보해 공통점과 차이점을 비교하는 방식으로 분석했습니다. 처음에는 특정 공정 단계가 원인으로 의심됐지만, 추가 분석 결과 원자재 로트 차이가 실제 원인이었던 경험이 있습니다. 첫 가설에 안주하지 않고 여러 가능성을 끝까지 검토한 것이 정확한 원인 규명으로 이어졌습니다.
같은 실수가 반복돼요. 이것만 피해도 절반은 갑니다.
진짜 면접은 두 번째 질문부터예요. 이 답 뒤에 따라올 법한 것들.