학교 실험 실패 분석 8D 유사 적용
졸업 프로젝트에서 시제품 회로가 반복적으로 오작동해 처음엔 부품을 통째로 교체했지만 문제가 재발했습니다. 이후 원인을 하나씩 격리해 확인하는 방식으로 접근해 온도 변화에 따른 특정 저항값 변동이 원인이라는 것을 3번의 재현 실험 끝에 확인했습니다. 해당 부품을 온도 보상 회로로 교체하고 이후 20회 반복 테스트에서 재발이 없음을 검증했습니다. 증상만 없애는 것과 원인을 제거하는 것은 다르다는 것을 배웠습니다.