이 질문 뒤에 면접관이 확인하려는 것은 따로 있습니다.
Pre-Silicon 기능 검증 테스트를 작성할 때 가장 먼저 하는 건 검증 목표를 기능 포인트 단위로 정의하는 것입니다. 어떤 기능을 어느 수준까지 커버할지를 먼저 정해두지 않으면 테스트가 추가될수록 어느 영역이 과잉이고 어느 곳이 빈 건지 알기 어렵습니다. 디렉티드 테스트로 경계 조건과 코너 케이스를 먼저 잡고, 랜덤 시나리오로 예상치 못한 상태 조합을 탐색하는 방식이 일반적임을 학습했습니다.
커버리지 그룹을 정의해 디렉티드 테스트가 닿지 않은 영역을 시각화하면 추가 테스트 방향을 잡기 쉽습니다. 검증 계획 없이 테스트를 쌓으면 중복과 공백이 동시에 생기는 경험을 학부 프로젝트에서 했고, 이후 계획 단계를 생략하지 않는 방식을 씁니다. 이 접근이 기능 검증의 효율을 결정한다는 것을 그때 배웠습니다.
Pre-Silicon 기능 검증 테스트를 작성할 때 제가 짜는 절차의 핵심은, 디렉티드 테스트와 제약 랜덤 자극을 혼합해 커버리지를 채우는 일입니다. 디렉티드만 쓰면 예상한 경계만 보고 랜덤만 쓰면 의도한 코너를 놓쳐, 둘을 섞어야 빈틈이 줄기 때문입니다. 그래서 저는 먼저 검증 목표를 기능 포인트 단위로 정의하고, 디렉티드 테스트로 경계 조건과 코너 케이스를 잡은 뒤 랜덤 시나리오로 예상치 못한 상태 조합을 탐색합니다. 커버리지 그룹을 정의해 디렉티드가 닿지 않은 영역을 시각화하면 추가 테스트 방향이 잡힙니다. 본인 손에 닿은 자리로는, 학부 프로젝트에서 검증 계획 없이 테스트를 쌓다 중복과 공백이 동시에 생긴 걸 겪고 이후 계획 단계를 생략하지 않게 됐습니다. 재발 방지로는 그 계획 수립을 절차로 남겼습니다. 다만 한계도 짚습니다. 저는 학부 수준이라, SoC 레벨 통합 시나리오나 예외 처리 케이스까지 아우르는 검증 계획을 세워 본 경험은 없습니다. 그래서 혼합 절차를 토대로, 그 검증 역량을 더 키우려 합니다.
Pre-Silicon 기능 검증에서 제가 가장 먼저 하는 건, 검증 목표를 기능 포인트 단위로 정의하는 일입니다. 어떤 기능을 어느 수준까지 커버할지를 먼저 정하지 않으면, 테스트가 쌓일수록 어느 영역이 과잉이고 어디가 빈 곳인지 알 수 없기 때문입니다. 그래서 저는 기능을 포인트로 나눠 목표를 잡고, 커버리지 그룹으로 디렉티드 테스트가 닿지 않은 영역을 시각화해 추가 방향을 정합니다. 그렇게 하면 무작정 테스트를 늘리지 않고 빈 곳만 채울 수 있습니다. 본인 손에 닿은 자리로는, 학부 프로젝트에서 계획 없이 테스트를 쌓아 중복과 공백을 동시에 겪은 뒤로 계획 단계를 생략하지 않습니다. 재발 방지로는 검증 계획을 먼저 세우는 걸 습관으로 남겼습니다. 다만 한계도 짚습니다. 저는 학부 단일 모듈 수준이라, SoC 레벨에서 기능 포인트를 정의하거나 그 커버리지를 회귀로 수렴시켜 완료를 판정해 본 경험은 없습니다. 그래서 목표를 먼저 정한 시각을 토대로, 그 검증 역량을 더 키우려 합니다.
답변에서 흔히 빠지는 것들 — 빠져 있으면 꼬리질문이 깊어집니다.
이 질문에 이어 삼성전자 반도체 회로설계 면접관이 던질 가능성이 높은 후속 질문.
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