학교 실습에서의 적용 경험을 설명한다
저는 반도체 공정 실습 중 웨이퍼 수율이 예상보다 낮게 나온 상황을 8D 기법으로 분석해본 경험이 있습니다. 먼저 문제를 정의하고, 공정 단계별로 데이터를 나눠 어느 단계에서 편차가 발생하는지 좁혀갔습니다. 원인은 특정 장비의 온도 편차였는데, 이를 발견한 뒤 임시 조치로 온도를 재조정하고 근본 원인인 센서 노후화를 확인해 교체를 제안했습니다. 이 경험으로 문제 해결은 임시방편과 근본 대책을 구분해야 한다는 것을 배웠습니다.