High-k/Metal Gate 공정 구조와 게이트-라스트 통합 절차·인터페이스 상태 밀도 최적화 학습
RMG(Replacement Metal Gate) 모듈 통합에 대한 직접적인 경험은 없지만, High-k/Metal Gate 공정이 도입된 배경과 통합 시 주요 고려사항에 대해 공부했습니다. RMG는 게이트 옥사이드 신뢰성과 임계 전압 조정을 위해 기존 Poly-Si 게이트를 금속으로 교체하는 공정으로, CMOS 스케일링의 핵심 전환점 중 하나입니다.
게이트-라스트(gate-last) 방식에서는 고온 공정 후 플레이스홀더 게이트를 제거하고 High-k 유전체와 금속 게이트를 충전하는 순서로 진행되며, 이 과정에서 평탄화와 식각 균일도 제어가 중요합니다. RMG 통합에서는 인터페이스 상태 밀도와 채널 이동도 최적화가 핵심 과제이고, 금속 선택과 공정 온도 이력 간의 트레이드오프를 이해하는 것이 설계-공정 협업의 출발점입니다. 이 분야에서 실무 경험을 쌓고 싶습니다.