실패 메커니즘 분석 적용 결
수업에서 신뢰성 물리학 과목을 들으며 TDDB, EM, HCI 같은 실패 메커니즘을 공부했습니다. 이후 학교 프로젝트에서 게이트 산화막 두께가 얇은 공정을 쓰게 됐을 때, 수업에서 배운 TDDB 모델을 떠올려 과전압 조건에서의 수명을 간단히 추산했습니다.
Arrhenius 가속 모델로 온도별 수명을 계산하고, 허용 동작 온도 범위를 스펙에 명시했습니다. 추산이 완벽하지 않더라도 물리적 근거를 갖춘 수치를 제시하니, 설계 리뷰에서 논의가 구체화됐습니다. 신뢰성 물리 지식은 수치를 만드는 것보다 어느 메커니즘이 지배적인지 판단하는 데 더 큰 가치가 있다는 결을 배웠습니다.