Scan Architecture의 기본 원리에 대해 설명해 주세요.

Scan Architecture는 반도체 칩 내부의 플립플롭들을 직렬로 연결해 테스트 경로를 만드는 DFT 기법입니다. 일반 동작 모드에서는 각 플립플롭이 독립적으로 로직 경로와 연결되지만, 스캔 모드에서는 스캔 인·아웃 경로를 통해 직렬로 연결돼 내부 상태를 외부에서 관찰하고 제어할 수 있게 됩니다.

스캔 시프트와 캡처 단계를 반복하면서 테스트 패턴을 주입하고 결과를 읽어내는 방식으로, 내부 노드에 직접 접근하지 않고도 결함을 검출할 수 있습니다. Stuck-at, Transition, Path Delay 등 다양한 결함 모델을 대상으로 ATPG를 통해 최적화된 테스트 패턴을 자동 생성할 수 있어 테스트 효율이 높습니다. 이 구조가 양산 테스트의 핵심 기반이 된다는 걸 DFT 수업에서 배웠습니다.