DFT 아키텍처를 정의할 때 어떤 요소를 고려해야 하나요?

학부 수업에서 스캔 체인 기반 DFT만으로 설계를 분석했는데, 메모리 블록에서 커버리지가 낮게 나왔습니다. 스캔 체인은 조합 논리와 플립플롭 기반 순차 논리에는 효과적이지만, 메모리 어레이 내부 결함은 일반 ATPG 패턴으로 탐지하기 어려운 구조였습니다.

BIST(내장 자가 검사)를 메모리에 별도 추가해야 하는 이유가 거기에 있었습니다. 스캔 체인 DFT가 모든 결함을 커버하지 못한다는 걸 직접 확인한 셈이었습니다. 한 가지 DFT 기법이 전체를 커버하지 않는 경우가 있다는 점을 알았습니다. DFT 아키텍처는 블록 유형에 따라 검사 방법을 달리 조합해야 합니다. 이 경험에서 DFT 설계 시 어떤 블록 유형이 포함됐는지를 먼저 파악하는 것이 아키텍처 완성도를 결정한다는 걸 배웠습니다.