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실패 모드 분류와 스펙 이탈 구간 계통적 추적 결
복잡한 실패를 디버깅할 때 디자인 관련 실패를 식별하는 방법은 제조 변동과 설계 마진 문제를 먼저 구분하는 것입니다. 같은 공정에서 만들어진 소자 중 일부만 실패하면 제조 변동이 원인이고, 모든 배치에서 일관된 실패 패턴이 나오면 설계 문제를 의심합니다.
디자인 실패는 스펙 경계값 테스트(corner analysis)를 통해 확인합니다. 설계 마진이 충분하지 않으면 공정 변동이 약간만 있어도 소자 특성이 스펙을 이탈하게 됩니다. 이 패턴이 나오면 설계팀과 공정팀이 함께 원인을 분석하는 협력이 필요합니다.
정확한 실패 분류는 수정 방향을 결정하는 기준이 됩니다. 설계 수정이 필요한지, 공정 조건 조정으로 해결 가능한지를 초기에 판단하면 불필요한 반복 실험을 줄이고 빠른 해결로 이어집니다.
이 결의 특징
제조 변동과 설계 마진 문제를 실패 패턴으로 구분하는 기준을 세운 흔적이 있습니다. 스펙 경계값 테스트로 설계 마진 부족을 확인하는 절차가 담겨 있습니다.
이 결이 통하는 자리
실패 분류가 수정 방향을 결정하는 기준이라는 논리가 구체적으로 이어질 때 통합니다. 설계팀과 공정팀의 협력이 필요한 지점을 짚는 자리에서 통하는 결이 보입니다.