이 질문 뒤에 면접관이 확인하려는 것은 따로 있습니다.
테스트 프로그램 실습에서 간헐적으로 실패하는 테스트 케이스를 디버깅하는 과제를 받았습니다. 처음에는 재실행하면 통과하기도 해서 무시했는데 5번 중 2번꼴로 실패한다는 걸 로그를 모으면서 파악했습니다. 로그를 보니 실패 케이스에서만 타임아웃 직전에 특정 레지스터 폴링이 반복되는 패턴이 있었습니다. 폴링 간격을 조정했더니 실패가 없어졌지만, 근본 원인을 파악하려고 장비 응답 시간 분포를 추가로 측정했습니다.
응답 시간이 90번째 백분위에서 타임아웃 임계값을 초과한다는 걸 확인하고 임계값을 조정했습니다. 간헐 오류는 재현 조건을 잡는 것이 해결의 절반이라는 걸 그때 배웠습니다. 지금도 디버깅은 로그 수집부터 시작합니다.
테스트 프로그램 실습에서 수율이 목표보다 낮게 나오는 항목을 분석할 때, 처음에는 DUT 자체 불량으로 판단하고 넘겼습니다. 같은 DUT를 다른 장비로 돌렸을 때 통과하는 걸 보고 테스트 프로그램 쪽 문제임을 확인했습니다. 가드밴드 설정이 공정 변동 범위보다 좁아 양품이 불량으로 빠지는 경우였고, 이를 오버킬이라고 부른다는 것도 그때 처음 배웠습니다. 가드밴드를 공정 능력(Cpk) 기반으로 재계산해 조정하자 수율이 목표에 근접했습니다.
이 경험에서 디버깅은 DUT 결함과 테스트 조건 문제를 구분하는 것이 핵심임을 배웠습니다. 이후로 수율 이상이 생기면 테스트 이스케이프와 오버킬을 동시에 확인하는 순서를 씁니다.
테스트 벡터 실습에서 특정 기능 블록만 실패하는 패턴을 추적한 적이 있습니다. 실패 핀과 사이클 번호를 좁혀가며 타이밍 설정 마진이 얼마나 남아 있는지를 확인하는 방식으로 접근했습니다. 타이밍 마진 측정 결과, 특정 핀의 셋업 타임이 벡터 사이클 클럭에 비해 타이트하게 설정된 것이 원인이었습니다. 장비 사양과 실제 소자 특성의 차이를 고려하지 않은 채 이론값으로만 벡터를 짠 것이 근본 원인이었습니다.
셋업·홀드 마진을 여유 있게 재설정하고 재측정하자 실패가 사라졌습니다. 이 경험에서 벡터 설계는 이론 타이밍이 아니라 실측 마진을 기반으로 해야 한다는 원칙을 배웠고, 이후 벡터를 작성할 때 마진 여유를 먼저 확인하는 습관이 생겼습니다.
답변에서 흔히 빠지는 것들 — 빠져 있으면 꼬리질문이 깊어집니다.
이 질문에 이어 삼성전자 반도체 평가·분석 면접관이 던질 가능성이 높은 후속 질문.
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