DFT 스캔 구현을 위해 어떤 문서화 작업을 수행하나요?

학부 DFT 수업에서 스캔 체인을 직접 삽입하는 실습을 하면서, 왜 DFT가 설계 초기부터 고려해야 하는지를 이해했습니다. 스캔 체인은 플립플롭을 직렬로 연결해 내부 상태를 외부에서 관찰·제어할 수 있게 만드는 구조라는 걸 배웠습니다. 스캔 체인 길이가 너무 길면 테스트 시간이 길어지고, 너무 짧으면 패드 수가 늘어나는 트레이드오프가 있다는 것도 알았습니다.

압축 DFT(EDT)를 쓰면 체인 수를 줄이면서도 테스트 시간을 크게 줄일 수 있다는 걸 수업에서 배웠습니다. BIST는 외부 테스터 없이 칩 내부에서 자가 테스트를 수행하는 방식으로, 메모리 검증에 많이 쓰인다는 것도 익혔습니다. DFT 전략은 테스트 커버리지와 테스트 비용의 균형을 잡는 설계 결정이라는 걸 알았습니다. 이후 저는 RTL 설계 때 스캔 가능성을 처음부터 고려하는 습관이 생겼습니다.